prof. dr hab. inż.
Jerzy Krupka Instytut Mikroelektroniki i Optoelektroniki PW ul. Nowowiejska 15/19 pok. 364 (GE) 00-665 Warszawa tel. (22) 234 7693 e-m@il: |
Prof. Jerzy Krupka jest światowego formatu naukowcem i ekspertem w dziedzinie pomiarów elektromagnetycznych właściwości materiałów w paśmie częstotliwości mikrofalowych. Opracował i wdrożył, wiele unikalnych, bardzo dokładnych metod służących do badań zespolonej przenikalności elektrycznej, zespolonej przenikalności magnetycznej i przewodności właściwej różnych materiałów, w tym polskiego grafenu i azotku galu (materiału na niebieskie lasery). Opracowana przez niego metoda dzielonego rezonatora dielektrycznego (split post dielectric resonator) została uznana za międzynarodowy standard pomiarowy (IEC 61189-2-721). Opracowane przez Prof. Jerzego Krupkę urządzenia pomiarowe oraz związany z nimi software są sprzedawane do największych firm i instytucji na świecie przez polską firmę QWED począwszy od 2001 roku. Dotychczas sprzedano około 1000 urządzeń pomiarowych do około 300 firm, uniwersytetów oraz wiodących instytutów naukowych z całego świata. Liczba sprzedawanych produktów nadal rośnie i jak dotąd nie mają one konkurencji na świecie. Około 90% ceny tych urządzeń stanowi oryginalna myśl techniczna. Zatem można twierdzić, iż najważniejszym osiągnięciem naukowo-technicznym Prof. Jerzego Krupki jest uwieńczona sukcesem promocja polskiej myśli naukowej na świecie i sprzedaż, powstałych z tej myśli, produktów wysokiej technologii. Rezonatory pomiarowe są cenione przez inżynierów wielkich firm światowych, wykorzystujących je naukowców oraz przez instytucje kreujące standardy pomiarowe na świecie takie jak National Institute of Standards and Technology w USA czy National Physical Laboratory w Londynie. Firma QWED sprzedająca urządzenia opracowane przez Prof. Jerzego Krupkę jest szczególnie dumna z docenienia jakości rezonatorów pomiarowych przez wiodącą firmę produkującą aparaturę pomiarową na świecie Keysight, która zakupiła wiele rezonatorów pomiarowych i zdecydowała się na ich nieodpłatną reklamę. Stało się tak, gdyż produkowane przez Keysight Technologies analizatory sieci mikrofalowych mogą być dzięki temu wykorzystywane do badań materiałowych, po podłączeniu do nich rezonatorów Prof. Jerzego Krupki. Podobne rozwiązanie wdrożyła ostatnio także, konkurująca z Keysight firma Rohde and Schwarz. W Japonii rezonatory Prof. Jerzego Krupki dystrybuuje firma Vega Technology Incorporation, a w Chinach Keysight China oraz Hisun Test Technologies. Należy podkreślić, że opisane wyżej rozwiązania pomiarowe (rezonatory pomiarowe wraz z odpowiednimi programami) stanowią produkt wysokiej technologii wytwarzany jedynie w Polsce. W uznaniu jego osiągnięć naukowych przez środowisko międzynarodowe Prof. Jerzy Krupka uzyskał w roku 2012 prestiżowy stopień IEEE Fellow z następującym cytowaniem osiągnięć: "For contributions to high frequency measurements of electromagnetic properties of materials".
Projektowanie urządzeń pomiarowych, a w szczególności opracowywanie odpowiednich programów komputerowych bazuje na wielu latach prac naukowych Prof. Jerzego Krupki, udokumentowanych publikacjami w wiodących czasopismach naukowych na świecie. Publikacje Prof. Jerzego Krupki z tej dziedziny są cytowane około 3900 razy, a index Hirscha wynosi 29 (wg. Science Citation Index). Według GoogleScholar około 6400 cytowań, index Hirscha 36.
Oryginalne, opracowane i opublikowane przez Prof. Jerzego Krupkę teorie obejmują między innymi:
Prof. John Hartnett: „I believe that it would be difficult to find any of the world’s leading manufacturers of materials for microwave applications who have not yet tested his products with the cells and methods developed by Dr. Krupka. In many invited talks at international meetings and symposia he has been called as a prominent international expert in the field of microwave materials measurements”.
Prof. Heli Jantunen: „Prof. Jerzy Krupka is globally outstanding expert in the field materials microwave measurements and his achievements have without any doubt promoted Polish Technical Science in the world”.
Prof. Michael Tobar: “Prof. Krupka is considered as a one of the top world experts in the area of measurements of electromagnetic properties of materials at microwave frequencies and he was able to establish a company that supplied the world metrology institutes and companies to enable important measurement of materials”.
Prof. Janina Mazierska: „I am of the opinion that through Professor Jerzy Krupka’s work a very significant progress in microwave characterization of novel low loss materials and development of new materials has been achieved. This includes superconductors, dielectrics, ferrites, semiconductors (substrates, bulk and thin films) and metamaterials. This contributed to advancement of the electronic industry worldwide and hence economic development in Europe, USA and Asia. As for Poland, where Prof Krupka resides, economic benefits include a world standard high tech expertise, a company, more jobs, new high tech skills, and of course more tax paid”.
Prof. Danilo Suvorov: “In my opinion, the research and creativity of Prof. Krupka put him far above the average. He is, without doubt, a real worldwide scientific ambassador for Poland. Based on the above, I have absolutely no hesitation whatsoever in recommending Prof. Krupka for the Polish Award for Technical and Scientific Achievements”.
Projektowanie urządzeń pomiarowych, a w szczególności opracowywanie odpowiednich programów komputerowych bazuje na wielu latach prac naukowych Prof. Jerzego Krupki, udokumentowanych publikacjami w wiodących czasopismach naukowych na świecie. Publikacje Prof. Jerzego Krupki z tej dziedziny są cytowane około 3900 razy, a index Hirscha wynosi 29 (wg. Science Citation Index). Według GoogleScholar około 6400 cytowań, index Hirscha 36.
Oryginalne, opracowane i opublikowane przez Prof. Jerzego Krupkę teorie obejmują między innymi:
- analizę modów „whispering galery” i ich zastosowania do pomiaru dielektryków o ekstremalnie niskich stratach (w tym materiałów anizotropowych)
- elektrodynamiczną analizę rezonansów w układach zawierających ośrodki żyromagnetyczne oraz jej zastosowania w pomiarach szerokości linii rezonansowej i magnetyzacji nasycenia, w tym udowodnienie, że podstawowymi modami w takich układach są rezonanse o właściwościach plazmonu magnetycznego (cykl 10 artykułów w tym 3 w Nature Scientific Reports)
- zastosowania rezonatorów dielektrycznych w bezkontaktowych urządzeniach pomiarowych służących do pomiaru przewodnictwa i nadprzewodnictwa półprzewodników, przewodników, nadprzewodników i meta-materiałów, w tym takich materiałów jak grafen, GaN czyYBCO
Prof. John Hartnett: „I believe that it would be difficult to find any of the world’s leading manufacturers of materials for microwave applications who have not yet tested his products with the cells and methods developed by Dr. Krupka. In many invited talks at international meetings and symposia he has been called as a prominent international expert in the field of microwave materials measurements”.
Prof. Heli Jantunen: „Prof. Jerzy Krupka is globally outstanding expert in the field materials microwave measurements and his achievements have without any doubt promoted Polish Technical Science in the world”.
Prof. Michael Tobar: “Prof. Krupka is considered as a one of the top world experts in the area of measurements of electromagnetic properties of materials at microwave frequencies and he was able to establish a company that supplied the world metrology institutes and companies to enable important measurement of materials”.
Prof. Janina Mazierska: „I am of the opinion that through Professor Jerzy Krupka’s work a very significant progress in microwave characterization of novel low loss materials and development of new materials has been achieved. This includes superconductors, dielectrics, ferrites, semiconductors (substrates, bulk and thin films) and metamaterials. This contributed to advancement of the electronic industry worldwide and hence economic development in Europe, USA and Asia. As for Poland, where Prof Krupka resides, economic benefits include a world standard high tech expertise, a company, more jobs, new high tech skills, and of course more tax paid”.
Prof. Danilo Suvorov: “In my opinion, the research and creativity of Prof. Krupka put him far above the average. He is, without doubt, a real worldwide scientific ambassador for Poland. Based on the above, I have absolutely no hesitation whatsoever in recommending Prof. Krupka for the Polish Award for Technical and Scientific Achievements”.
Aktualnie prowadzone projekty badawcze:
- 2022-2024, Standaryzacja pomiaru własności dielektrycznych materiałów na potrzeby technologii 5G, Ministerstwo Edukacji i Nauki ‑ Polska Metrologia - kierownik projektu
- B. Salski, P. Czekała, J. Krupka et al., A Microwave Sensor of Moisture Content and Salinity of Soil, IEEE Sensors Journal 22 (3), 2022, pp. 2135-2141, http://dx.doi.org/10.1109/JSEN.2021.3137370
- A. Pacewicz, B. Salski, J. Krupka et al., Electromagnetic Characterization of Shielded Spherical Gyromagnetic Resonators, IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 70 (2), 2022, pp. 1016-1025, http://dx.doi.org/10.1109/tmtt.2021.3131977
- X. Su, A. Tkach, J. Krupka et al., High Q Dielectric Titanium Tellurite Thick Films on Alumina Substrates for High Frequency Telecommunications, Materials 15 (2), 2022, pp. 467-1-10, http://dx.doi.org/10.3390/ma15020467
- J. Krupka, B. Salski, T. Karpisz et al., Irradiated Silicon for Microwave and Millimeter Wave Applications, IEEE Microwave and Wireless Components Letters 32 (6), 2022, pp. 700-703, http://dx.doi.org/10.1109/LMWC.2022.3161393
- P. Kopyt, B. Salski, J. Krupka, Measurements of the Complex Anisotropic Permittivity of Laminates with TM0n0 Cavity, IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 70 (1), 2022, pp.432-443, http://dx.doi.org/10.1109/TMTT.2021.3073426
- J. Krupka, B. Salski, A. Pacewicz, Mode spectra of magnetic and dielectric plasmon spheres obtained from Mie scattering and free oscillation theories, European Physical Journal B 95 (1), 2022, pp. 1-7, http://dx.doi.org/10.1140/epjb/s10051-021-00257-x
- C. Zhao Zijun, M. Goryachev, J. Krupka et al., Precision Multi-Mode Dielectric Characterization of a Crystalline Perovskite Enables Determination of the Temperature-Dependent Phase Transitions, IEEE Transactions on Ultrasonics Ferroelectrics and Frequency Control 69 (1), 2022, pp. 423-429, http://dx.doi.org/10.1109/tuffc.2021.3108118